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读取信号完整性测试中的测试结果

编辑:PCB    来源:未知    发布时间:2018-12-01 20:34    浏览量:
小型SoC的整体测试架构,其中使用了Jtag输入(TDI,TCK,TMS,Trst和TDO)而没有任何修改。但是,定义了一条新指令,主要用于读取信号完整性测试中的测试结果。从图7中可以看出,只有每个互连的接收端单元已更改为OBSC。对于双向互连,OBSC单元用于Core J和Core1之间的两侧。其他单元是标准BSc,在信号完整性测试模式下出现在扫描链中。 ILS的作用是独立的,不需要特殊的控制电路来控制这些单元的时序。
 
扫描并输出由F显示的完整性信息以确定有问题的互连。
 
1. ex-sitest指令对于新的测试体系结构,建议在IEEE 1149.1指令集中添加一条新指令Ex-sitest。该指令类似于Extest指令,但添加了控制信号Si。在Update-ir状态中,该指令被解码并生成(SI_1)。然后输出单元用作标准BSC,而输入单元用作obsc。在SHIFT-DR状态期间,信号F在CAPTURE-DR状态下被捕获并以每个时钟周期的速度向外移位。在此示例中,TAP控制器状态不会更改,但在解码指令时需要进行一些更改。
 
核心之间存在的ex-sitest指令的数据流如图8所示。
 
ex-sitest指令
2.测试过程TAP控制器IR首先加载ex-sitest指令,然后所有测试模式应用于互连,而ILS单元捕获互连端的信号并检测所有可能的故障。在测试应用程序过程完成后,必须读取存储在ILS单元FF中的结果。监控过程可以利用3种方法中的一种。
 
例如,使用方法3,应用所有测试模式,然后马上读取完整性信息。
3.测试数据压缩在传统的边界扫描架构(BSA)中,测试模式是进入并应用于互连的扫描。例如,在具有最大入侵者(MA)故障模型的N比特互连中,对每条受害线应用12种测试模式,当将测试模式应用于受伤线时需要12n时钟。在n个互连之间翻转受害线,并且总时钟数(测试应用程序的数量)为12N2。当然,Ma是一个简化的模型。如果在使用更复杂的模型或者在Soc中存在大量互连时测试模式的数量激增,则压缩是必要的。本文先容了一种简单有效的压缩技术,用于增加边界扫描结构。
由于篇幅有限,本文只能简要先容一下增加JTAG架构的灵活性。这种压缩技术有两个关键点。首先,大家的方法是一种简单的非破坏性压缩方法,通过确定相邻两个模式之间的最大相似性并覆盖它们来构造压缩比特流。其次,因为这种压缩方法是非破坏性的并且不对模式重新排序,所以不需要额外的解压缩硬件。并且只有自动测试设备(ATE)用于通过控制Jtag TMS控制的输入侧来实行解压缩过程。生成测试模式时,测试模式集中通常会出现大量不重要的模式。信号完整性生成的模式也是如此,特别是在考虑区域度量时(限制开发模式空间)。在任何情况下,大家假设测试集由包含相同长度的不重要长度的模式组成。
 
图9表达了大家的基本压缩思想,即充分利用不重要的部分来覆盖尽可能多的位,以完成2种模式VI和VJ的压缩(长度为1_16)。
 
测试数据压缩
 
在这种情况下,压缩数据(VI,VJ)仅用21个时钟扫描输入,而未压缩数据需要16 + 16 = 32个时钟。重要的是要注意,为了理解指定数据流的压缩,大家需要一个数字模式(例如本例中的Di和DJ)来构造(解压缩)模式。基于边界扫描测试的目的,这些量是在更新BSC单元的内容之前所需的移位(即时钟)的数量。大家假设ate存储解压缩数据(诸如0≤d≤1的d值),其在扫描输入比特流时在D时钟之后激活TMS(测试模式选择)信号。然后,TMS信号提示抽头控制器产生正确的控制指令(例如ex-sitest)以进行信号完整性测试。因此,不需要额外的解压缩硬件

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